Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology - Gerd Kaupp - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540284055 - 2006. gada 4. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology 2006 edition

Cena
€ 226,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 8. - 22. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Gerd Kaupp izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.


308 pages, 7 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 4. augusts
ISBN13 9783540284055
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 292
Izmēri 155 × 235 × 19 mm   ·   607 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja