Pastāsti draugiem par šo preci:
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Mathias Schubert Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics
Mathias Schubert
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
196 pages, biography
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2010. gada 23. novembris |
| ISBN13 | 9783642062285 |
| Izdevēji | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Lapas | 196 |
| Izmēri | 155 × 235 × 11 mm · 299 g |
| Valoda | Angļu |
Vairāk no Mathias Schubert
Rādīt visuVairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Mathias Schubert ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )