Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642062285 - 2010. gada 23. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

Cena
€ 232,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Mathias Schubert izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 23. novembris
ISBN13 9783642062285
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 196
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Mathias Schubert

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja