Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 2004. gada 26. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

Cena
€ 263,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 10. - 24. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Mathias Schubert izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2004. gada 26. novembris
ISBN13 9783540232490
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 196
Izmēri 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
Valoda Angļu   Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja