Pastāsti draugiem par šo preci:
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Mathias Schubert 2004 edition
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics
Mathias Schubert
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
196 pages, biography
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2004. gada 26. novembris |
| ISBN13 | 9783540232490 |
| Izdevēji | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Lapas | 196 |
| Izmēri | 155 × 232 × 12 mm · 476 g |
| Valoda | Angļu Vācu |
Vairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Mathias Schubert ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )