Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 2018. gada 18. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 53,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 16. - 24. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2018. gada 18. jūlijs
ISBN13 9783319912035
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 135
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Valoda Franču  

Mere med samme udgiver