Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Grāmatas - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 2019. gada 1. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 53,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 9. - 17. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2019. gada 1. februāris
ISBN13 9783030081980
Izdevēji Springer Nature Switzerland AG
Lapas 135
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Valoda Vācu  

Mere med samme udgiver