Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319756868 - 2018. gada 19. marts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2018. gada 19. marts
ISBN13 9783319756868
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 521
Izmēri 242 × 167 × 38 mm   ·   986 g
Valoda Vācu  
Redaktors Glatzel, Thilo
Redaktors Sadewasser, Sascha

Vairāk no tā paša izdevēja