Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Grāmatas - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 2019. gada 4. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

Cena
€ 222,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 31. jūl. - . gada 10. aug.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2019. gada 4. janvāris
ISBN13 9783030092986
Izdevēji Springer Nature Switzerland AG
Lapas 521
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Valoda Vācu  
Redaktors Glatzel, Thilo
Redaktors Sadewasser, Sascha

Vairāk no tā paša izdevēja