Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science - Cor Claeys - Grāmatas - Springer Nature Switzerland AG - 9783030067472 - 2019. gada 30. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Cor Claeys izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.


438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2019. gada 30. janvāris
ISBN13 9783030067472
Izdevēji Springer Nature Switzerland AG
Lapas 438
Izmēri 232 × 154 × 28 mm   ·   698 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja