Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Grāmatas - Springer London Ltd - 9781849968201 - 2010. gada 22. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Cena
€ 154,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 8. - 16. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 22. oktobris
ISBN13 9781849968201
Izdevēji Springer London Ltd
Lapas 298
Izmēri 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Edmund G. Seebauer

Rādīt visu

Mere med samme udgiver