Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Grāmatas - Springer London Ltd - 9781848820586 - 2008. gada 1. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 21. - 29. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2008. gada 1. decembris
ISBN13 9781848820586
Izdevēji Springer London Ltd
Lapas 298
Izmēri 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver