Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET - Synthesis Lectures on Emerging Engineering Technologies - Nabil Shovon Ashraf - Grāmatas - Morgan & Claypool Publishers - 9781681733876 - 2018. gada 13. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET - Synthesis Lectures on Emerging Engineering Technologies


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nabil Shovon Ashraf izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Explores device parameters such as channel inversion carrier mobility and its characteristic evolution. This book is the first to illustrate that a single subthreshold slope value is erroneous and at lower gate voltage below inversion, subthreshold slope value exhibits a variation tendency on applied gate voltage below threshold.


89 pages

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2018. gada 13. jūlijs
ISBN13 9781681733876
Izdevēji Morgan & Claypool Publishers
Lapas 89
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   825 g
Sērijas redaktors Iniewski, Kris

Vairāk no Nabil Shovon Ashraf

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja