Pastāsti draugiem par šo preci:
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis ASM International
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem ASM International izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
ASM International
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
660 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2018. gada 30. janvāris |
| ISBN13 | 9781627081504 |
| Izdevēji | A S M International |
| Lapas | 660 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 987 g (Svars (aptuveni)) |
Vairāk no ASM International
Rādīt visu
Vairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus ASM International ( piem., Hardcover Book , Paperback Book , Book un PC )