Pastāsti draugiem par šo preci:
The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry - Materials Characterization and Analysis Collection Alan M. Spool
The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry - Materials Characterization and Analysis Collection
Alan M. Spool
181 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2016. gada 24. marts |
| ISBN13 | 9781606507735 |
| Izdevēji | Momentum Press |
| Lapas | 181 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 263 g |
| Valoda | Angļu |