Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B - B.K. Tanner - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475711288 - 2012. gada 16. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1980 edition

Cena
€ 63,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 17. - 31. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem B.K. Tanner izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.


589 pages, 556 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 16. decembris
ISBN13 9781475711288
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 589
Izmēri 178 × 254 × 31 mm   ·   1,05 kg
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus B.K. Tanner ( piem., Paperback Book )