Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials - David C. Joy - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461486596 - 2013. gada 14. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

David C. Joy
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials 2013 edition

Cena
€ 64,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 5. - 19. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem David C. Joy izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.

72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 14. septembris
ISBN13 9781461486596
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 64
Izmēri 155 × 235 × 8 mm   ·   158 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus David C. Joy ( piem., Paperback Book )