Rapid Reliability Assessment of VLSICs - A.P. Dorey - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278795 - 2012. gada 8. marts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

A.P. Dorey
Rapid Reliability Assessment of VLSICs Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Cena
€ 64,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 12. - 26. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem A.P. Dorey izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.

212 pages, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 8. marts
ISBN13 9781461278795
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 212
Izmēri 170 × 244 × 12 mm   ·   349 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus A.P. Dorey ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )