Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B - David Cherns - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278504 - 2011. gada 13. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

Cena
€ 64,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 12. - 26. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem David Cherns izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.


412 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 13. oktobris
ISBN13 9781461278504
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 412
Izmēri 170 × 244 × 22 mm   ·   680 g
Valoda Angļu  
Redaktors Cherns, David

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus David Cherns ( piem., Paperback Book )