Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering - Sleiman Bou-Sleiman - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441995476 - 2011. gada 22. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering 2012 edition

Cena
€ 63,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 21. aug. - . gada 4. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sleiman Bou-Sleiman izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).


106 pages, 70 black & white illustrations, 7 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 22. septembris
ISBN13 9781441995476
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 89
Izmēri 155 × 235 × 5 mm   ·   163 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja