Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering - Telman Aliev - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441944108 - 2010. gada 24. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Telman Aliev
Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 24. sept. - . gada 2. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Telman Aliev izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

224 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 24. novembris
ISBN13 9781441944108
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 224
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   335 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Telman Aliev

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Telman Aliev