High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 2002. gada 30. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

Cena
€ 181,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem R. Dean Adams izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

250 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2002. gada 30. septembris
ISBN13 9781402072550
Izdevēji Kluwer Academic Publishers
Lapas 250
Izmēri 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus R. Dean Adams ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )