Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology - Tu, King-Ning (City University of Hong Kong) - Grāmatas - Taylor & Francis Ltd - 9781032470283 - 2025. gada 25. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Tu, King-Ning (City University of Hong Kong)
Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology

Cena
€ 84,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 16. - 30. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tu, King-Ning (City University of Hong Kong) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2025. gada 25. decembris
ISBN13 9781032470283
Izdevēji Taylor & Francis Ltd
Lapas 132
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   260 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Tu, King-Ning (City University of Hong Kong)