Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE) - Singh - Grāmatas - SPIE Press - 9780819431516 - 1999. gada 30. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Singh izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

1052 pages, illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 1999. gada 30. jūnijs
ISBN13 9780819431516
Izdevēji SPIE Press
Lapas 1052
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   1,74 kg   (Svars (aptuveni))

Vairāk no Singh

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Singh