Pastāsti draugiem par šo preci:
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE) Singh
Do you have a profile? Pierakstīties
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Singh izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)
Singh
1052 pages, illustrations
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 1999. gada 30. jūnijs |
| ISBN13 | 9780819431516 |
| Izdevēji | SPIE Press |
| Lapas | 1052 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 1,74 kg (Svars (aptuveni)) |