Pastāsti draugiem par šo preci:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems Santanu Chattopadhyay 1. izdevums
Cena
€ 119,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 21. sept. - . gada 5. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Santanu Chattopadhyay izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Pieejams arī kā:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.
118 pages, 10 Illustrations, black and white
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2018. gada 25. aprīlis |
| ISBN13 | 9780815378822 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Inc |
| Lapas | 118 |
| Izmēri | 225 × 145 × 14 mm · 296 g |
| Valoda | Angļu |
