Pastāsti draugiem par šo preci:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems Santanu Chattopadhyay 1. izdevums
Cena
€ 43,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 4. - 18. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Santanu Chattopadhyay izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Pieejams arī kā:
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.
118 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2020. gada 30. jūnijs |
| ISBN13 | 9780367607098 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Ltd |
| Lapas | 118 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 172 g |
| Valoda | Angļu |
Vairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Santanu Chattopadhyay ( piem., Paperback Book un Hardcover Book )