From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Grāmatas - Springer - 9780792397144 - 1996. gada 30. aprīlis
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing 1996 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 10. - 18. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jitendra B. Khare izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.


150 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1996. gada 30. aprīlis
ISBN13 9780792397144
Izdevēji Springer
Lapas 150
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   417 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja