Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Grāmatas - Springer - 9780792386698 - 1999. gada 30. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Benoit Nadeau-dostie
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing 2000 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 8. - 16. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Benoit Nadeau-dostie izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1999. gada 30. septembris
ISBN13 9780792386698
Izdevēji Springer
Lapas 239
Izmēri 178 × 254 × 15 mm   ·   653 g
Valoda Angļu  
Redaktors Nadeau-Dostie, Benoit

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Benoit Nadeau-dostie