Pastāsti draugiem par šo preci:
Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
Cena
€ 246,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 20. nov. - . gada 4. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Chim, Wai Kin (National University of Singapore) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
288 pages, Illustrations
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2001. gada 2. janvāris |
| Oriģinālā izdošanas datums | 2000 |
| ISBN13 | 9780471492405 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 288 |
| Izmēri | 160 × 237 × 20 mm · 716 g |
