Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387764863 - 2007. gada 20. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Cena
€ 120,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 12. - 26. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nisar Ahmed izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

304 pages, 1, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2007. gada 20. decembris
ISBN13 9780387764863
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 281
Izmēri 164 × 242 × 22 mm   ·   626 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Nisar Ahmed ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )