Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - 2007. gada 21. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. - 31. jūl.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Manoj Sachdev izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2007. gada 21. jūnijs
ISBN13 9780387465463
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 328
Izmēri 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Manoj Sachdev ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )