Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series - Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA) - Grāmatas - World Scientific Publishing Co Pte Ltd - 9789814630344 - 2015. gada 12. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series

Cena
€ 118,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 10. - 18. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

350 pages

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2015. gada 12. novembris
ISBN13 9789814630344
Izdevēji World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Lapas 340
Izmēri 158 × 238 × 23 mm   ·   614 g

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)