Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - S. Jayanthy - Grāmatas - Springer Verlag, Singapore - 9789811347849 - 2018. gada 21. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

S. Jayanthy
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits Softcover Reprint of the Original 1st 2019 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem S. Jayanthy izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2018. gada 21. decembris
ISBN13 9789811347849
Izdevēji Springer Verlag, Singapore
Lapas 156
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus S. Jayanthy ( piem., Paperback Book )