Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - Jayanthy - Grāmatas - Springer Verlag, Singapore - 9789811324925 - 2018. gada 10. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Jayanthy
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jayanthy izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Mediji Grāmatas     Book
Izlaists 2018. gada 10. oktobris
ISBN13 9789811324925
Izdevēji Springer Verlag, Singapore
Lapas 156
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   424 g

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Jayanthy ( piem., Book )