Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering - Advances in Solid State Technology - J Chikawa - Grāmatas - Springer - 9789401086165 - 2011. gada 25. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

J Chikawa
Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering - Advances in Solid State Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 1987 edition

Cena
€ 73,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 4. - 12. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem J Chikawa izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication.

272 pages, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 25. decembris
ISBN13 9789401086165
Izdevēji Springer
Lapas 300
Izmēri 152 × 229 × 14 mm   ·   367 g
Redaktors Chikawa, J.
Redaktors Sumino, K.
Redaktors Wada, K.

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus J Chikawa ( piem., Paperback Book )