Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications - Springer Series in Advanced Microelectronics - Jacopo Franco - Grāmatas - Springer - 9789400776623 - 2013. gada 29. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Jacopo Franco
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications - Springer Series in Advanced Microelectronics 2014 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. sept. - . gada 1. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jacopo Franco izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

206 pages, 219 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2013. gada 29. oktobris
ISBN13 9789400776623
Izdevēji Springer
Lapas 187
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   467 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Jacopo Franco