Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series - International Atomic Energy Agency - Grāmatas - IAEA - 9789201105158 - 2015. gada 14. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

International Atomic Energy Agency
Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem International Atomic Energy Agency izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Ion beam analysis techniques are non-destructive analytical techniques used to identify the composition and provide elemental depth profiles in surface layers of materials. Their reliability and accuracy depends on our knowledge of the nuclear reaction cross sections. This publication describes the coordinated effort to measure, compile and evaluate cross section data relevant to these techniques.

226 pages, col. ill. figs, tables

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2015. gada 14. decembris
ISBN13 9789201105158
Izdevēji IAEA
Lapas 226
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   502 g   (Svars (aptuveni))

Vairāk no International Atomic Energy Agency

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus International Atomic Energy Agency ( piem., Paperback Book , Book , CD-ROM un Map )