Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Grāmatas - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - 2015. gada 14. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 18. - 28. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Souvik Mahapatra izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2015. gada 14. augusts
ISBN13 9788132225072
Izdevēji Springer, India, Private Ltd
Lapas 269
Izmēri 155 × 235 × 20 mm   ·   652 g
Redaktors Mahapatra, Souvik

Vairāk no tā paša izdevēja