Jesús Javier Ortega Cabrera

Avaliacao teorica da reflectancia em filmes finos AL/SiO2 Jesús Javier Ortega Cabrera

A melhoria das propriedades ópticas de um material, como a reflectância, envolve a complexa busca dos parâmetros experimentais ideais no processo de obtenção dos mesmos. O uso de software computacional para a simulação destes processos de crescimento de película fina representa um benefício substancial devido à não dependência de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades físicas envolvidas. Além disso, há uma necessidade na indústria automotiva, a Varroc Lighting Systems(c) recebeu a tarefa de melhorar a reflectância dos faróis aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM(R), que utiliza o método cinético Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema físico a ser estudado em escala nanométrica, isto nos permitirá analisar a influência de diferentes magnitudes que podem afetar a reflectância do material.