Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Grāmatas - Springer Verlag, Japan - 9784431568049 - 2018. gada 25. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nobuo Tanaka izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.


333 pages, 10 Tables, color; 22 Illustrations, color; 107 Illustrations, black and white; XXVIII, 33

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2018. gada 25. jūlijs
ISBN13 9784431568049
Izdevēji Springer Verlag, Japan
Lapas 333
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   618 g

Vairāk no tā paša izdevēja