Built-in Self-test of Global Routing Resources in Fpgas: Bist for Xilinx Virtex-4 Fpgas - Jia Yao - Grāmatas - LAP LAMBERT Academic Publishing - 9783843374958 - 2011. gada 18. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Jia Yao
Built-in Self-test of Global Routing Resources in Fpgas: Bist for Xilinx Virtex-4 Fpgas

Cena
€ 45,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 26. nov. - . gada 4. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jia Yao izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

It is important to test programmable routing resources in Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) because they take up the largest portion of configuration memory bits. In Virtex-4 FPGAs, routing resources account for over 80% of the configuration memory. Built-In Self-Test (BIST) is adopted to test the routing resources in FPGAs and overcomes issues residing in previously developed test approaches. Analysis and evaluations of developed BIST algorithm and configurations are provided.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 18. janvāris
ISBN13 9783843374958
Izdevēji LAP LAMBERT Academic Publishing
Lapas 88
Izmēri 225 × 5 × 150 mm   ·   149 g
Valoda Vācu  

Skatīt visus Jia Yao