Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit - Dr. Torsten Hahn - Grāmatas - Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch - 9783838124407 - 2011. gada 18. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Dr. Torsten Hahn
Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit German edition

Cena
€ 62,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Dr. Torsten Hahn izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 18. maijs
ISBN13 9783838124407
Izdevēji Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch
Lapas 152
Izmēri 150 × 9 × 226 mm   ·   244 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Dr. Torsten Hahn