Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology - Bert Voigtlander - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662505571 - 2016. gada 13. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 14. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Bert Voigtlander izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.


397 pages, 41 black & white illustrations, 148 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2016. gada 13. oktobris
ISBN13 9783662505571
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 382
Izmēri 155 × 235 × 21 mm   ·   557 g
Valoda Vācu  

Vairāk no Bert Voigtlander

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja