Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State - Springer Tracts in Modern Physics - Andreas Rosenauer - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662146187 - 2013. gada 20. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

Cena
€ 53,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 20. - 28. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Andreas Rosenauer izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.


253 pages, 186 black & white illustrations, 47 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 20. novembris
ISBN13 9783662146187
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 241
Izmēri 155 × 235 × 14 mm   ·   362 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja