Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 2012. gada 23. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. - 31. jūl.
Saņemiet paziņojumus par jauniem S Morita izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);


458 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 23. oktobris
ISBN13 9783642627729
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 440
Izmēri 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Valoda Vācu  
Redaktors Meyer, E.
Redaktors Morita, S.
Redaktors Wiesendanger, Roland

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus S Morita ( piem., Paperback Book )