Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications - Springer Series in Materials Science - Andrei Benediktovich - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642381768 - 2013. gada 18. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications - Springer Series in Materials Science 2014 edition

Cena
€ 142,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 9. - 17. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Andrei Benediktovich izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis.


310 pages, 71 black & white illustrations, 37 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2013. gada 18. septembris
ISBN13 9783642381768
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 318
Izmēri 155 × 235 × 23 mm   ·   521 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja