Photomodulated Optical Reflectance: A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon - Springer Theses - Janusz Bogdanowicz - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642301070 - 2012. gada 28. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Photomodulated Optical Reflectance: A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon - Springer Theses 2012 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 15. - 23. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Janusz Bogdanowicz izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Among the plethora of measurement techniques, the optical reflectance approach developed in this work is the sole concept that does not require physical contact, making it suitable for non-invasive in-line metrology.


220 pages, 51 black & white illustrations, 23 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2012. gada 28. jūnijs
ISBN13 9783642301070
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 204
Izmēri 155 × 235 × 18 mm   ·   453 g
Valoda Franču  

Vairāk no tā paša izdevēja