Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642271137 - 2013. gada 30. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences

Cena
€ 120,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sascha Sadewasser izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 30. novembris
ISBN13 9783642271137
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 334
Izmēri 156 × 236 × 23 mm   ·   485 g
Valoda Franču  
Redaktors Glatzel, Thilo
Redaktors Sadewasser, Sascha

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Sascha Sadewasser ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )