Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642264788 - 2012. gada 6. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2010 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Otwin Breitenstein izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.

258 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 6. novembris
ISBN13 9783642264788
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 258
Izmēri 155 × 235 × 18 mm   ·   385 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Otwin Breitenstein ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )