Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences - Reinhard Krause-Rehberg - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642084034 - 2010. gada 1. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1999 edition

Cena
€ 228,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 1. - 15. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Reinhard Krause-Rehberg izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods.


383 pages, 121 black & white illustrations, 20 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 1. decembris
ISBN13 9783642084034
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 383
Izmēri 232 × 156 × 47 mm   ·   626 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja