Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 2010. gada 12. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 110,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 30. jūn. - . gada 8. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 12. februāris
ISBN13 9783642065965
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 378
Izmēri 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Valoda Vācu  
Redaktors Bhushan, Bharat
Redaktors Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver