Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642024160 - 2010. gada 5. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics 2nd ed. 2010 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Otwin Breitenstein izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.

250 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2010. gada 5. septembris
ISBN13 9783642024160
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 258
Izmēri 155 × 235 × 20 mm   ·   498 g
Valoda Franču  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Otwin Breitenstein ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )